دورية أكاديمية

DC Performance Variations by Grain Boundary in Source/Drain Epitaxy of Sub-3-nm Nanosheet Field-Effect Transistors

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: DC Performance Variations by Grain Boundary in Source/Drain Epitaxy of Sub-3-nm Nanosheet Field-Effect Transistors
المؤلفون: Yoon, J., Jeong, J., Lee, S., Lee, J., Lim, J., Baek, R.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 10:22032-22037 2022
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:21693536
DOI:10.1109/ACCESS.2022.3154049