دورية أكاديمية
أعرض في EDS

A Secure JTAG Wrapper for SoC Testing and Debugging

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: A Secure JTAG Wrapper for SoC Testing and Debugging
المؤلفون: Lee, K., Lu, Z., Yeh, S.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 10:37603-37612 2022
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:21693536
DOI:10.1109/ACCESS.2022.3164712