دورية أكاديمية

Simulation study of lateral CEFT logic performance at 3 nm Node

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Simulation study of lateral CEFT logic performance at 3 nm Node
المؤلفون: Wen, Guanguo, Long, Qiang, Shi, Xinlong, Wang, Ying, Liu, Feng, Hu, Huiyong, Zhang, Jincheng
المصدر: In Microelectronics Journal September 2023 139
قاعدة البيانات: ScienceDirect