دورية أكاديمية
Simulation study of lateral CEFT logic performance at 3 nm Node
العنوان: | Simulation study of lateral CEFT logic performance at 3 nm Node |
---|---|
المؤلفون: | Wen, Guanguo, Long, Qiang, Shi, Xinlong, Wang, Ying, Liu, Feng, Hu, Huiyong, Zhang, Jincheng |
المصدر: | In Microelectronics Journal September 2023 139 |
قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
كن أول من يترك تعليقا!