دورية أكاديمية

Fabrication and characterization of buried silicide layers on SOI substrates for BICMOS-applications

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Fabrication and characterization of buried silicide layers on SOI substrates for BICMOS-applications
المؤلفون: Zimmermann, S., Zhao, Q.T., Trui, B., Wiemer, M., Kaufmann, C., Mantl, S., Dudek, V., Gessner, T.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2005 82(3):454-459
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:01679317
DOI:10.1016/j.mee.2005.07.042