دورية أكاديمية

Digital image correlation of SEM images for surface deformation of CMOS IC

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Digital image correlation of SEM images for surface deformation of CMOS IC
المؤلفون: Chen, Terry Yuan-Fang, Chen, Tzu-Ching, Cheng, Fa-Yen, Tsai, Ang-Ting, Lin, Ming-Tzer
المصدر: In Microelectronic Engineering 5 December 2018 201:16-21
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:01679317
DOI:10.1016/j.mee.2018.09.007