دورية أكاديمية
Ion beam analysis of the SiO2/SiC interface
| العنوان: | Ion beam analysis of the SiO2/SiC interface |
|---|---|
| المؤلفون: | Soares, G.V., Trombetta, F., Schütz, P., Baumvol, I.J.R., Radtke, C., Stedile, F.C. |
| المصدر: | In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B August 2006 249(1-2):444-446 |
| قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
Full Text Finder | تدمد: | 0168583X |
|---|---|
| DOI: | 10.1016/j.nimb.2006.03.027 |