دورية أكاديمية

Investigation of both interface states spectrum and deep oxide states from differential isothermal transient spectroscopy

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Investigation of both interface states spectrum and deep oxide states from differential isothermal transient spectroscopy
المؤلفون: Muret, P., Auvray, L., Salicio, O., Dubourdieu, C.
المصدر: In Materials Science in Semiconductor Processing 2006 9(6):885-888
قاعدة البيانات: ScienceDirect