دورية أكاديمية

Effect of structural disorder on the modification of V–V and V–O bond lengths at the metal-dielectric phase transition in VO2 thin films

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Effect of structural disorder on the modification of V–V and V–O bond lengths at the metal-dielectric phase transition in VO2 thin films
المؤلفون: Strelchuk, V.V., Kolomys, O.F., Maziar, D.M., Melnik, V.P., Romanyuk, B.M., Gudymenko, O.Y., Dubikovskyi, O.V., Liubchenko, O.I.
المصدر: In Materials Science in Semiconductor Processing May 2024 174
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:13698001
DOI:10.1016/j.mssp.2024.108224