Polarized Raman mapping and phase-transition by CW excitation for fast purely optical characterization of VO2 thin films

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	Polarized Raman mapping and phase-transition by CW excitation for fast purely optical characterization of VO2 thin films
المؤلفون:	Mussi, V.^{Aff1, IDs41598024703010_cor1}, Bovino, F. A., Falsini, R., Daloiso, D., Lupo, F. V., Kunjumon, R., Voti, R. Li, Cesca, T., Macaluso, R., Sibilia, C., Mattei, G.
المصدر:	Scientific Reports. 14(1)
قاعدة البيانات:	Springer Nature Journals

كن أول من يترك تعليقا!