Evolution of Microcracks in Epitaxial CeO2 Thin Films on YSZ-Buffered Si

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	Evolution of Microcracks in Epitaxial CeO2 Thin Films on YSZ-Buffered Si
المؤلفون:	Jung, Soo Young^{Aff1, Aff2}, Choi, Hyung-Jin, Lee, Jun Young, Kim, Min-Seok^{Aff1, Aff2}, Ning, Ruiguang, Han, Dong-Hun^{Aff1, Aff2}, Kim, Seong Keun^{Aff1, Aff3}, Won, Sung Ok, Lee, June Hyuk, Jang, Ji-Soo, Jang, Ho Won, Baek, Seung-Hyub^{Aff1, Aff6, IDs1339102300449w_cor12}
المصدر:	Electronic Materials Letters. 20(4):484-490
قاعدة البيانات:	Springer Nature Journals

كن أول من يترك تعليقا!