دورية أكاديمية
Synchrotron white beam x-ray topography analysis of MBE grown CdTe/CdTe (111)B
العنوان: | Synchrotron white beam x-ray topography analysis of MBE grown CdTe/CdTe (111)B |
---|---|
المؤلفون: | Fanning, T., Lee, M. B., Casagrande, L. G., Di Marzio, D., Dudley, M. |
المصدر: | Journal of Electronic Materials. August 1993 22(8):943-949 |
قاعدة البيانات: | Springer Nature Journals |
تدمد: | 03615235 1543186X |
---|---|
DOI: | 10.1007/bf02817508 |