دورية أكاديمية

Single-event effect hardening of the Schottky contact super barrier rectifier (SSBR) with high-k gate dielectric

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Single-event effect hardening of the Schottky contact super barrier rectifier (SSBR) with high-k gate dielectric
المؤلفون: Zhang, Aohang, Chen, WensuoAff1, IDs10825023020888_cor2, Huang, Jiaweiwen, Yu, Qisheng, Wang, Yuying, Li, Jian
المصدر: Journal of Computational Electronics. 22(5):1463-1471
قاعدة البيانات: Springer Nature Journals
الوصف
تدمد:15698025
15728137
DOI:10.1007/s10825-023-02088-8