مؤتمر
Raman study of damage processes in Si{sup +}-implanted GaAs
| العنوان: | Raman study of damage processes in Si{sup +}-implanted GaAs |
|---|---|
| المساهمون: | Kiefer, W [Wuerzburg Univ. (Germany). Inst. fuer Physikalische Chemie] |
| المصدر: | Conference: 22. European congress on molecular spectroscopy,Essen (Germany),11-16 Sep 1994; Other Information: PBD: Sep 1994 |
| وصف الملف: | Medium: P; Size: 5 p. |
| URL الوصول: | http://www.osti.gov/scitech/servlets/purl/10113202 |
| قاعدة البيانات: | SciTech Connect |
| الوصف غير متاح. |