مؤتمر
Extensive microstructural quality control inside a machine tool using multiwavelength digital holography.
العنوان: | Extensive microstructural quality control inside a machine tool using multiwavelength digital holography. |
---|---|
المؤلفون: | Seyler, T., Fratz, M., Beckmann, T., Bertz, A., Carl, D., Grün, V., Börret, R., Ströer, F., Seewig, J. |
المصدر: | Proceedings of SPIE; 9/19/2018, Vol. 10834, p108342B-1-108342B-13, 13p |
قاعدة البيانات: | Complementary Index |
كن أول من يترك تعليقا!