دورية أكاديمية
An Evaluation of Beam-Damage Zone in Si Wafer Machined by Gatan MicroPREPTM Laser-Ablation.
العنوان: | An Evaluation of Beam-Damage Zone in Si Wafer Machined by Gatan MicroPREPTM Laser-Ablation. |
---|---|
المؤلفون: | Zhao, Wayne, Bennett, Corbin, Pichumani, Pradip Sairam, Walker, Gerald, Eaton, Kevin, Shearer, Michael Hassel, Dumas, Laurent, Brooks, Irene, Wang, Ying |
المصدر: | Microscopy & Microanalysis; Aug2019 Supplement, p1146-1147, 2p |
قاعدة البيانات: | Complementary Index |
كن أول من يترك تعليقا!