Raman Studies of Doped Poly-Si Thin Films Prepared by Pulsed Excimer Laser Annealing

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Raman Studies of Doped Poly-Si Thin Films Prepared by Pulsed Excimer Laser Annealing
المؤلفون: Compaan, A., Savage, M.E., Jayamaha, U., Azfar, T., Aydinli, A.
المصدر: Materials Science Forum; September 1994, Vol. 173 Issue: 1 p197-202, 6p
مستخلص: Not Available
قاعدة البيانات: Supplemental Index
الوصف
تدمد:02555476
16629752
DOI:10.4028/www.scientific.net/MSF.173-174.197