Defects and Their Influence on Parasitic Devices in Integrated Circuits

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Defects and Their Influence on Parasitic Devices in Integrated Circuits
المؤلفون: Prejdova, R.
المصدر: Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; January 1989, Vol. 6 Issue: 1 p585-590, 6p
مستخلص: Not Available
قاعدة البيانات: Supplemental Index
الوصف
تدمد:10120394
DOI:10.4028/www.scientific.net/SSP.6-7.585