Hard failure prediction of ADI pattern using optical parameters and machine learning

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Hard failure prediction of ADI pattern using optical parameters and machine learning
المؤلفون: Burkhardt, Martin, van Lare, Claire, Cho, Yeongchan, Choi, Seongjeon, Lee, Wonchan, Ahn, Hungbae, Park, Sangoh, Kim, Dongho, Yang, Seunghune
المصدر: Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12953 Issue: 1 p129530D-129530D-6, 1165777p
قاعدة البيانات: Supplemental Index
الوصف
تدمد:0277786X
DOI:10.1117/12.3010633