Study of Drift in RRAM Devices Under Various Operating Conditions
| العنوان: | Study of Drift in RRAM Devices Under Various Operating Conditions |
|---|---|
| المؤلفون: | Brett Hochman, Rashmi Jha, Kevin Leedy |
| المصدر: | NAECON 2021 - IEEE National Aerospace and Electronics Conference. |
| بيانات النشر: | IEEE, 2021. |
| سنة النشر: | 2021 |
| URL الوصول: | https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::28bcb1f82b43cb3af2dc58f1b7427080 https://doi.org/10.1109/naecon49338.2021.9696425 |
| حقوق: | CLOSED |
| رقم الأكسشن: | edsair.doi...........28bcb1f82b43cb3af2dc58f1b7427080 |
| قاعدة البيانات: | OpenAIRE |
| الوصف غير متاح. |