أعرض في EDS

Characterizing Electrical Device Behavior with Functional Tolerance Bounds

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Characterizing Electrical Device Behavior with Functional Tolerance Bounds
المؤلفون: Jason Adams, James Tucker, David Angeles, Tabytha Perez, Thomas Buchheit, Shahed Reza
المصدر: Proposed for presentation at the Mechanistic Machine Learning and Digital Twins for Computaional Science, Engineering, and Technology held September 26-29, 2021 in San Diego, CA US.
بيانات النشر: US DOE, 2021.
سنة النشر: 2021
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4f32786bdd9bfa409f895bc377968a1d
https://doi.org/10.2172/1888652
رقم الأكسشن: edsair.doi...........4f32786bdd9bfa409f895bc377968a1d
قاعدة البيانات: OpenAIRE
الوصف
الوصف غير متاح.