Features of the Formation of Ripple Structures on the Surface of Silicon under Irradiation with a Focused Gallium Ion Beam

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Features of the Formation of Ripple Structures on the Surface of Silicon under Irradiation with a Focused Gallium Ion Beam
المؤلفون: M. A. Smirnova, V. I. Bachurin, L. A. Mazaletsky, D. E. Pukhov, A. B. Churilov, A. S. Rudy
المصدر: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 15:S150-S156
بيانات النشر: Pleiades Publishing Ltd, 2021.
سنة النشر: 2021
مصطلحات موضوعية: Surfaces, Coatings and Films
تدمد: 1819-7094
1027-4510
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::566dad2fe937ebd93491cf126080987e
https://doi.org/10.1134/s1027451022020380
حقوق: CLOSED
رقم الأكسشن: edsair.doi...........566dad2fe937ebd93491cf126080987e
قاعدة البيانات: OpenAIRE