Probabilistic Fault Grading for AI Accelerators using Neural Twins

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Probabilistic Fault Grading for AI Accelerators using Neural Twins
المؤلفون: Arjun Chaudhuri, Jonti Talukdar, Krishnendu Chakrabarty
المصدر: 2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI).
بيانات النشر: IEEE, 2022.
سنة النشر: 2022
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c4f0290a72991abfaf18412bd60afcb1
https://doi.org/10.1109/isvlsi54635.2022.00074
حقوق: CLOSED
رقم الأكسشن: edsair.doi...........c4f0290a72991abfaf18412bd60afcb1
قاعدة البيانات: OpenAIRE