Automatic Structural Test Generation for Analog Circuits using Neural Twins
| العنوان: | Automatic Structural Test Generation for Analog Circuits using Neural Twins |
|---|---|
| المؤلفون: | Jonti Talukdar, Arjun Chaudhuri, Mayukh Bhattacharya, Krishnendu Chakrabarty |
| المصدر: | 2022 IEEE International Test Conference (ITC). |
| بيانات النشر: | IEEE, 2022. |
| سنة النشر: | 2022 |
| URL الوصول: | https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ce768c05af97237ca1e1c445582db284 https://doi.org/10.1109/itc50671.2022.00022 |
| حقوق: | CLOSED |
| رقم الأكسشن: | edsair.doi...........ce768c05af97237ca1e1c445582db284 |
| قاعدة البيانات: | OpenAIRE |
| الوصف غير متاح. |