New insights into low frequency noise (LFN) sources analysis in GaN/Si MIS-HEMTs
العنوان: | New insights into low frequency noise (LFN) sources analysis in GaN/Si MIS-HEMTs |
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المؤلفون: | R. Kom Kammeugne, C. Theodorou, C. Leroux, L. Vauche, X. Mescot, R. Gwoziecki, S. Becu, M. Charles, E. Bano, G. Ghibaudo |
المساهمون: | CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), Université Grenoble Alpes (UGA), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) |
المصدر: | Solid-State Electronics Solid-State Electronics, 2023, 200, pp.108555. ⟨10.1016/j.sse.2022.108555⟩ |
بيانات النشر: | Elsevier BV, 2023. |
سنة النشر: | 2023 |
مصطلحات موضوعية: | Materials Chemistry, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Electrical and Electronic Engineering, Condensed Matter Physics, Electronic, Optical and Magnetic Materials |
الوصف: | International audience |
تدمد: | 0038-1101 |
URL الوصول: | https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ccba85ceea2acfa422702ace7c6e2fe6 https://doi.org/10.1016/j.sse.2022.108555 |
حقوق: | CLOSED |
رقم الأكسشن: | edsair.doi.dedup.....ccba85ceea2acfa422702ace7c6e2fe6 |
قاعدة البيانات: | OpenAIRE |
تدمد: | 00381101 |
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