دورية أكاديمية

24.4 W/mm X-Band GaN HEMTs on AlN Substrates With the LPCVD-Grown High-Breakdown-Field SiNx Layer

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: 24.4 W/mm X-Band GaN HEMTs on AlN Substrates With the LPCVD-Grown High-Breakdown-Field SiNx Layer
المؤلفون: Kotani, J., Yaita, J., Homma, K., Ozaki, S., Yamada, A., Sato, M., Ohki, T., Nakamura, N.
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 11:101-106 2023
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:21686734
DOI:10.1109/JEDS.2023.3234235