A study of thermal effects in RF-MEM-switches using a time domain approach

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: A study of thermal effects in RF-MEM-switches using a time domain approach
المؤلفون: Thiel, W., Tornquist, K., Reano, R., Katehi, L.P.B.
المصدر: 2002 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.02CH37278) Microwave symposium digest Microwave Symposium Digest, 2002 IEEE MTT-S International. 1:235-238 vol.1 2002
Relation: Proceedings of 2002 International Microwave Symposium (MTT 2002)
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:0780372395
9780780372399
تدمد:0149645X
DOI:10.1109/MWSYM.2002.1011601