دورية أكاديمية

Creep Effect on the Crack Growth Rate of Wire Bonds in IGBT Power Modules

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Creep Effect on the Crack Growth Rate of Wire Bonds in IGBT Power Modules
المؤلفون: Ouhab, M., Degrenne, N., Ito, Y.
المصدر: IEEE Transactions on Power Electronics IEEE Trans. Power Electron. Power Electronics, IEEE Transactions on. 39(1):1482-1491 Jan, 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:08858993
19410107
DOI:10.1109/TPEL.2023.3314798