دورية أكاديمية

Test Insertion for Dynamic Test Compaction

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Test Insertion for Dynamic Test Compaction
المؤلفون: Pomeranz, I.
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 43(4):1302-1306 Apr, 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:02780070
19374151
DOI:10.1109/TCAD.2023.3332835