دورية أكاديمية

Learning Your Lock: Exploiting Structural Vulnerabilities in Logic Locking

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Learning Your Lock: Exploiting Structural Vulnerabilities in Logic Locking
المؤلفون: Chakraborty, P., Cruz, J., Almawzan, R., Mahfuz, T., Bhunia, S.
المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 41(2):7-14 Apr, 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:21682356
21682364
DOI:10.1109/MDAT.2024.3354569