Double-pulse load-pull for trapping Characterization of GaN Transistors

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Double-pulse load-pull for trapping Characterization of GaN Transistors
المؤلفون: Avolio, Gustavo, Lorenzini, Martino, Balovnev, Nikolai, Marchetti, Mauro
المصدر: 2024 102nd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG), 2024 102nd. :1-4 Jan, 2024
Relation: 2024 102nd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG)
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9798350395983
تدمد:27678776
DOI:10.1109/ARFTG59840.2024.10460681