دورية أكاديمية

Energy and Disturbance Analysis of 1T-DRAM With Nanowire Gate-All-Around RFET

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Energy and Disturbance Analysis of 1T-DRAM With Nanowire Gate-All-Around RFET
المؤلفون: Nirala, R.K., Semwal, S., Gupta, M., Kranti, A.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(5):2950-2956 May, 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2024.3371950