دورية أكاديمية
Total Ionizing Dose Effects on 22 nm UTBB FD-SOI MOSFETs up to 100 Mrad(Si)
| العنوان: | Total Ionizing Dose Effects on 22 nm UTBB FD-SOI MOSFETs up to 100 Mrad(Si) |
|---|---|
| المؤلفون: | Zhang, R., Cui, J., Li, Y., Guo, Q., Zheng, Q. |
| المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(6):3490-3497 Jun, 2024 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 00189383 15579646 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/TED.2024.3386511 |