Cross-Section Estimation for Assessment of Circuit Susceptibility to Radiation

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Cross-Section Estimation for Assessment of Circuit Susceptibility to Radiation
المؤلفون: Farias, Clayton R., Balen, Tiago R., Butzen, Paulo F.
المصدر: 2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS) Latin American Test Symposium (LATS), 2024 IEEE 25th. :1-6 Apr, 2024
Relation: 2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS)
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
ردمك:9798350365559
DOI:10.1109/LATS62223.2024.10534605