دورية أكاديمية

Leakage Current and Hot-Carrier Injection in the Junctionless Nanowire FETs Enhanced by Tensile Mechanical Stress

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Leakage Current and Hot-Carrier Injection in the Junctionless Nanowire FETs Enhanced by Tensile Mechanical Stress
المؤلفون: Kumar, N., Gupta, A., Singh, P.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(7):4420-4423 Jul, 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2024.3405474