دورية أكاديمية
Analysis of Displacement Damage Induced by Silicon-Ion Irradiation in SiC MOSFETs
العنوان: | Analysis of Displacement Damage Induced by Silicon-Ion Irradiation in SiC MOSFETs |
---|---|
المؤلفون: | Wu, L., Dong, S., Liu, F., Liu, Z., Wei, Y., Li, W., Xu, X., Yang, J., Li, X. |
المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 71(7):1370-1379 Jul, 2024 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
كن أول من يترك تعليقا!