دورية أكاديمية

Thermal Studies of 3-D Stacked InGaAs HEMTs and Mitigation Strategy of Self-Heating Effect Using Buried Metal Insertion

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Thermal Studies of 3-D Stacked InGaAs HEMTs and Mitigation Strategy of Self-Heating Effect Using Buried Metal Insertion
المؤلفون: Jeong, J., Kim, S.K., Suh, Y., Shim, J., Beak, W.J., Choi, S.J., Kim, J.P., Kim, B.H., Geum, D., Kim, J., Kim, S.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(8):4517-4523 Aug, 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2024.3404419