دورية أكاديمية

Improvement of Thermal Characteristics and On-Current in Vertically Stacked Nanosheet FET by Parasitic Channel Height Engineering

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Improvement of Thermal Characteristics and On-Current in Vertically Stacked Nanosheet FET by Parasitic Channel Height Engineering
المؤلفون: Song, Y.S., Kim, H., Hyun Kim, J.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:105878-105886 2024
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:21693536
DOI:10.1109/ACCESS.2024.3435691