دورية أكاديمية

Application of the Eyring Model to Capacitor Aging Data

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Application of the Eyring Model to Capacitor Aging Data
المؤلفون: Endicott, H., Hatch, B., Sohmer, R.
المصدر: IEEE Transactions on Component Parts IEEE Trans. Comp. Parts Component Parts, IEEE Transactions on. 12(1):34-41 Mar, 1965
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00976601
21681716
DOI:10.1109/TCP.1965.1135088