دورية أكاديمية

A 22-nm damascene-gate MOSFET fabrication with 0.9-nm EOT and local channel implantation

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: A 22-nm damascene-gate MOSFET fabrication with 0.9-nm EOT and local channel implantation
المؤلفون: Jeong-Dong Choe, Chang-Sub Lee, Sung-Ho Kim, Sung-Min Kim, Shin-Ae Lee, Ju-Won Lee, Shin, Y.-G., Donggun Park, Kinam Kim
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 24(3):195-197 Mar, 2003
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:07413106
15580563
DOI:10.1109/LED.2003.811401