دورية أكاديمية
Single-event effects ground testing and on-orbit rate prediction methods: the past, present, and future
العنوان: | Single-event effects ground testing and on-orbit rate prediction methods: the past, present, and future |
---|---|
المؤلفون: | Reed, R.A., Kinnison, J., Pickel, J.C., Buchner, S., Marshall, P.W., Kniffin, S., LaBel, K.A. |
المصدر: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 50(3):622-634 Jun, 2003 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
كن أول من يترك تعليقا!