دورية أكاديمية

Transport and noise properties of ramp-edge junction

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Transport and noise properties of ramp-edge junction
المؤلفون: Kim, D.H., Lee, C.W., Lee, T.W., Hwang, J.S., Hahn, T.S., Sung, G.Y., Kim, S.H., Kim, J.H.
المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 13(2):3738-3741 Jun, 2003
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:10518223
15582515
23787074
DOI:10.1109/TASC.2003.812536