دورية أكاديمية

Fabrication and program/erase characteristics of 30-nm SONOS nonvolatile memory devices

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Fabrication and program/erase characteristics of 30-nm SONOS nonvolatile memory devices
المؤلفون: Suk-Kang Sung, Il-Han Park, Chang Ju Lee, Yong Kyu Lee, Jong Duk Lee, Byung-Gook Park, Soo Doo Chae, Chung Woo Kim
المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 2(4):258-264 Dec, 2003
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:1536125X
19410085
DOI:10.1109/TNANO.2003.820779