دورية أكاديمية

Thickness quality control

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Thickness quality control
المؤلفون: Enguita, J.M., Fraga, C., Cuadrado, A.A., Fernandez, Y., Rendueles, J.L., Vecino, G.
المصدر: IEEE Industry Applications Magazine IEEE Ind. Appl. Mag. Industry Applications Magazine, IEEE. 12(2):12-20 Apr, 2006
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:10772618
15580598
DOI:10.1109/MIA.2006.1598022