دورية أكاديمية

First look at the beam test results of the FPIX2 readout chip for the BTeV silicon pixel detector

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: First look at the beam test results of the FPIX2 readout chip for the BTeV silicon pixel detector
المؤلفون: Uplegger, L., Appel, J.A., Artuso, M., Cardoso, G., Cease, H.P., Chiodini, G., Christian, D.C., Cinabro, D.A., Coluccia, R., Hoff, J., Kwan, S., Magni, S., Mekkaoui, A., Menasce, D., Newsom, C., Papavassiliou, V., Schreiner, A., Turqueti, M.A., Yarema, R., Wang, J.C.
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 53(1):409-413 Feb, 2006
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189499
15581578
DOI:10.1109/TNS.2006.869851