دورية أكاديمية

Highly manufacturable advanced gate-stack technology for sub-45-nm self-aligned gate-first CMOSFETs

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Highly manufacturable advanced gate-stack technology for sub-45-nm self-aligned gate-first CMOSFETs
المؤلفون: Seung-Chul Song, Zhibo Zhang, Huffman, C., Sim, J.H., Sang Ho Bae, Kirsch, P.D., Majhi, P., Rino Choi, Moumen, N., Byoung Hun Lee
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 53(5):979-989 May, 2006
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:00189383
15579646
DOI:10.1109/TED.2006.872700