دورية أكاديمية
Mechanism of Dynamic Bias Temperature Instability in p- and nMOSFETs: The Effect of Pulse Waveform
العنوان: | Mechanism of Dynamic Bias Temperature Instability in p- and nMOSFETs: The Effect of Pulse Waveform |
---|---|
المؤلفون: | Zhu, S., Nakajima, A., Ohashi, T., Miyake, H. |
المصدر: | IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 53(8):1805-1814 Aug, 2006 |
قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
كن أول من يترك تعليقا!