دورية أكاديمية
Drive-Current Enhancement in FinFETs Using Gate-Induced Stress
| العنوان: | Drive-Current Enhancement in FinFETs Using Gate-Induced Stress |
|---|---|
| المؤلفون: | K.-M. Tan, T.-Y. Liow, R. T. P. Lee, C.-H. Tung, Samudra, G.S., W.-J. Yoo, Y.-C. Yeo |
| المصدر: | IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 27(9):769-771 Sep, 2006 |
| قاعدة البيانات: | IEEE Xplore Digital Library |
Full Text Finder | تدمد: | 07413106 15580563 |
|---|---|
| DOI: | 10.1109/LED.2006.880657 |