دورية أكاديمية

COMPACTEST: a method to generate compact test sets for combinational circuits

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: COMPACTEST: a method to generate compact test sets for combinational circuits
المؤلفون: Pomeranz, I., Reddy, L.N., Reddy, S.M.
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 12(7):1040-1049 Jul, 1993
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:02780070
19374151
DOI:10.1109/43.238040