دورية أكاديمية

Determination of source and drain series resistances of ultra-short gate-length MODFETs

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Determination of source and drain series resistances of ultra-short gate-length MODFETs
المؤلفون: Liu, S.-M.J., Fu, S.-T., Thurairaj, M., Das, M.B.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 10(2):85-87 Feb, 1989
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:07413106
15580563
DOI:10.1109/55.32437