دورية أكاديمية

Tin Whisker Test Method Development

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Tin Whisker Test Method Development
المؤلفون: Schroeder, V., Bush, P., Williams, M., Vo, N., Reynolds, H. L.
المصدر: IEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing IEEE Trans. Electron. Packag. Manufact. Electronics Packaging Manufacturing, IEEE Transactions on. 29(4):231-238 Oct, 2006
قاعدة البيانات: IEEE Xplore Digital Library
الوصف
تدمد:1521334X
15580822
DOI:10.1109/TEPM.2006.887397